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金相顯微鏡常用的觀察方式介紹
來源: | 發布日期:2024-12-02 13:51:23
 

金相顯微鏡是針對金相樣品物理特性而設計的光學顯微鏡,它常用的觀察方式主要包括以下幾種:

一、明場觀察

原理:入射線垂直地或近似垂直地照射在試樣表面,利用試樣表面反射光線進入物鏡成像。如果試樣是一個鏡面,在視場內是明亮的一片,試樣上的組織將呈色影像襯映在明亮的視場內。

優點:視線亮度高且均勻,應用范圍廣,操作簡單,價格低廉。

缺點:對于低對比標本,其對比度可能較低;且標本在明場觀察下缺乏立體感。

金相顯微鏡.png

二、暗場觀察

原理:通過物鏡的外周照明試樣,照明光線不入射到物鏡內,得到試樣表面繞射光而形成的像。如果試樣是一個鏡面,由試樣上反射的光線仍以極大的傾斜角向反方向反射,無法進入物鏡,視場內因此呈現漆黑一片,只有試樣凹凸之處才能反射光線進入物鏡,使得試樣上的組織以亮白影像映襯在漆黑的視場內。

優點:分辨率高,能夠觀察到極其微妙的物體,分辨率可達0.02~0.004微米(明場為0.4微米)。

缺點:僅能觀察物體的存在、運動和外部形態,無法獲取更多關于物體內部或深層的信息。

三、偏光觀察

原理:利用偏光原理對某些物質所具有的偏光性進行觀察。自然光通過偏振棱鏡或人造偏振片后變成偏振光,當光線射到具有雙折射性的物質(如某些晶體)的分界面上時,會產生兩束折射光(尋常光和非常光),通過偏光顯微鏡可以觀察到這種雙折射現象。

應用:偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡,被廣泛地應用在礦物學、化學等領域,也用于生物學和植物學的研究。

四、微分干涉觀察(DIC)

原理:微分干涉是利用偏光干涉原理,光源發出一束光線經聚光鏡射入起偏鏡,形成一線偏振光,經半透反射鏡射入渥拉斯登棱鏡后,產生一個具有微小夾角的尋常光(O光)和非常光(e光)的相交平面;再通過物鏡射向試樣,反射后再經渥拉斯登棱鏡合成一束光,通過半透反射鏡在檢偏鏡上O光與e光重合產生相干光束,在目鏡焦平面上形成干涉圖像。

優點:能夠觀察試樣表面的微小凹凸和裂紋,且影像呈立體感,觀察效果更逼真。

缺點:需要高光強度,雙折射物質達不到DIC鏡檢效果,不能應用于塑料制品、培養物質的分析;鏡檢靈敏度有方向性,調整復雜。

五、激光共聚焦觀察(近十年新技術)

除了上述四種常見的觀察方式外,近十年來還出現了激光共聚焦的觀察方法。但請注意,按照現代儀器“模塊化設計,積木式結構”的設計思想,這四種(或五種,包含激光共聚焦)功能并不一定固化在每一臺金相顯微鏡上,而是以明場作為基本核心,其他功能可以像“搭積木”一樣組合到該顯微鏡上。

綜上所述,金相顯微鏡具有多種觀察方式,每種方式都有其獨特的原理和優缺點。在實際應用中,需要根據試樣的特性和觀察需求選擇合適的觀察方式。

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【責任編輯】超級管理員

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